一种基于YOLOv8模型的PCB缺陷识别方法

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正文
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一种基于YOLOv8模型的PCB缺陷识别方法
申请号:CN202411084821
申请日期:2024-08-08
公开号:CN119107532B
公开日期:2025-05-27
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于YOLOv8模型的PCB缺陷识别方法,所述方法包括:S1:获取待识别图像集;S2:改进YOLOv8模型,所述YOLOv8模型包括依次连接的Backbone网络、Neck网络和Head网络;改进的方法基于BiFPN双向特征金字塔网络,在其基础上整合了P2特征层,以提升小型目标的检测精度,并采用适合YOLOv8的卷积修改网络连接;引入TA层(Convolutional Triplet Attention Module),以提高模型的识别准确度;设计了全新的CSC模块来替代部分C2f模块,减少模型参数冗余,从而更快速、更精准地定位目标。S3:采用待识别图像集对改进YOLOv8模型进行训练;S4:将待测图像输入训练得到的改进YOLOv8模型中,得到PCB缺陷识别结果。本发明以YOLOv8模型作为基础识别网络,并对其网络模型结构进行改进,提高了YOLOv8模型的检测精度。
技术关键词
缺陷识别方法 输出特征 瑕疵 模块 电路板 双向特征金字塔 图像 网络模型结构 多尺度特征融合 数据 检测头 训练集 表达式 内核 精度 基础 层级 镜像 冗余
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