MCU芯片功能测试集成复用系统及方法

本发明涉及一种MCU芯片功能测试集成复用系统及方法，以FPGA为载体，接口复用互连为核心实现引脚根据配置互连复用；构建通信接口实现与主控芯片通信；构建信息处理模块将接收到的信息进行解码或者将返回的信息编码；构建系统控制逻辑单元根据解码的指令对控制寄存器写入/读取数据或对控制单元控制动作；构建数据返回模块根据接收到的指令将需要返回的数据筛选打包，构建接口实现引脚与系统的连接。最终实现一个可接收控制指令，可根据指令将接口上的信号线相对应的复用连接，或返回相对应控制寄存器的值，实现外部接口的互相连接与复用，以此实现被测芯片端口与信号监测或者激励信号端口连接来达到芯片测试的目的。