基于断言的芯片复位功能验证方法、系统、设备和介质

本发明涉及基于断言的芯片复位功能验证方法、系统、设备和介质，通过采用断言的验证方式进行芯片复位时序的验证，能够深入到芯片复位设计的所有细节，从而能够更精准、更全面的验证芯片复位功能。此外，断言模块也具有很好可移植性，能够在不同的芯片复位验证中通过简单调整检查信号和检查参数就可以实现复用，从而大幅提高验证效率。