一种考虑电热老化的微波器件建模方法

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一种考虑电热老化的微波器件建模方法
申请号:CN202411093679
申请日期:2024-08-09
公开号:CN119047387A
公开日期:2024-11-29
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种考虑电热老化的微波器件建模方法,涉及集成电路分析技术领域,包括:根据预设数据集,利用ENN神经网络构建等温退化网络模型和热退化修正网络模型;将所述等温退化网络模型和所述器件热退化修正网络模型结合,得到用于微波器件的非线性集电极电流退化模型。本发明解决了以往在对老化过程建模时较难将自热带来的影响同时考虑的问题。使用该建模方法建立的用于微波器件的非线性集电极电流退化模型考虑到了器件的电热老化,可对微波器件在电热老化下集电极电流的非线性变化的准确预测,同时实现了对自热和老化共同引起的器件退化的准确表征。
技术关键词
修正网络模型 微波器件建模 电热老化 退化模型 Elman神经网络 非线性 集成电路分析技术 电流 表达式 应力 因子 功率 电压 数据 建模方法 关系 样本 阶段
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