一种测试信息处理方法、集成测试装置、介质及控制器

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一种测试信息处理方法、集成测试装置、介质及控制器
申请号:CN202411098449
申请日期:2024-08-12
公开号:CN119088857A
公开日期:2024-12-06
类型:发明专利
摘要
本发明属于智能制造技术领域,尤其涉及一种测试信息处理方法、集成测试装置、介质及控制器;第一需求映射步骤/单元将当前需求信息(110)转换为逻辑需求信息(111),将历史需求描述信息(120)转换为逻辑描述信息(121);第二复合检索步骤/单元经语义检索和逻辑检索得到第一需求样例集(011)RS和第二需求样例集(012)φ;第三编码恢复步骤/单元比较检索结果以得到备选的测试用例(099);第四样本学习步骤/单元以少样本学习FSL(Few‑Shot‑Learn)改进测试数据;其产品和方法汇集语义检索与逻辑检索各自优势,并可借助语言模型在产品集成测试等场景生成符合自然语言规范的测试用例,借助测试信息的逻辑匹配过程降低了检索过程对具体领域知识的依赖度。
技术关键词
测试信息处理方法 集成测试装置 数据处理模型 自然语言 逻辑 语义 编码 计算机存储介质 解码结构 样本 元素 存储计算机程序 矩阵 信号 控制器 微处理器 符号 文本 算法
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