一种实现高压自举的结构

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一种实现高压自举的结构
申请号:CN202411100878
申请日期:2024-08-12
公开号:CN119182391A
公开日期:2024-12-24
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种实现高压自举的结构,可应用于高压驱动芯片中,解决了现有结构导通电阻大、成本高等问题。该发明结构内部至少包含两类晶粒,分别为第一类型晶粒和第二类型晶粒,其中,第一类型晶粒包含低压区、一个或一个以上的高压区,及介于高压区与低压区之间的隔离环,低压区的信号通过高压电平移位电路传递到高压区;第二类型晶粒也包含低压区、一个或一个以上的高压区,及介于高压区与低压区之间的隔离环,高压区与低压区之间具有寄生高压二极管。第一类型晶粒高压区的高侧参考电源焊盘、高侧参考地焊盘、高侧输出焊盘分别与第二类型晶粒高压区的高侧参考电源焊盘、高侧参考地焊盘、高侧输入焊盘通过封装打线一一连接。
技术关键词
高压驱动芯片 高压电平移位电路 高压二极管 低压 焊盘 隔离环 电源 晶体管电路 电阻 阴极 阳极 信号 开关
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