基于粒子群优化的改进二次隐式相高映射法

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基于粒子群优化的改进二次隐式相高映射法
申请号:CN202411107151
申请日期:2024-08-13
公开号:CN118999406A
公开日期:2024-11-22
类型:发明专利
摘要
本发明公开了基于粒子群优化的改进二次隐式相高映射法,包括步骤1,根据条纹图像得到截断相位;步骤2,将截断相位进行相位展开;步骤3,分别计算有测量目标的展开相位与无测量目标的展开相位,并得到两者的差;步骤4,根据两者的差值计算,得到测量目标的三维高度信息。该基于粒子群优化的改进二次隐式相高映射法,实现将相位信息映射为物体的高度信息,克服复杂干扰的影响。
技术关键词
互补格雷码 粒子群优化算法 粒子群算法 条纹 图像 参数 轮廓 物体
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