闩锁效应检测电路、方法、芯片及电子设备

本申请涉及集成电路技术领域，特别是涉及一种闩锁效应检测电路、方法、芯片及电子设备。本申请实施例提供的闩锁效应检测电路、方法、芯片及电子设备，包括信号采集模块、多路选择模块以及处理模块；多路选择模块用于对不同所述检测通路的采样信号进行切换输出；处理模块用于根据采用信号和所述电压参考信号确定是否发生闩锁，当确定结果为是时输出电压调整信号；通过信号采集模块、多路选择模块以及处理模块的设置实现了包含CMOS器件的芯片是否发生闩锁的检测，并且处理模块在包含CMOS器件的芯片触发闩锁效应后能够及时对电压模块的输出电压进行干预，有利于提高包含CMOS器件的芯片使用的可靠性和安全性。