单粒子锁定保护电路、检测方法、芯片及电子设备

本申请涉及集成电路技术领域，特别是涉及单粒子锁定保护电路、检测方法、芯片及电子设备，该单粒子锁定保护电路包括：温度检测模块，获取温度数据；第一检测模块，检测到工作电路满足第一异常条件时，输出第一使能控制信号；缓解控制模块，根据第一使能控制信号，获取多个温度数据，根据多个温度数据确定工作电路是否出现单粒子锁定异常，当确定结果为异常时输出第一电压调整信号；通过温度检测模块、第一检测模块以及缓解控制模块的设置实现了包含CMOS器件的芯片是否发生锁定异常的检测，并且缓解控制模块在包含CMOS器件的芯片发生锁定异常后能够及时对工作电路的电压进行干预，有利于提高包含CMOS器件的芯片使用的可靠性和安全性。