一种基于显微计算机断层扫描的绝缘拉杆微缺陷局部电场评估方法

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一种基于显微计算机断层扫描的绝缘拉杆微缺陷局部电场评估方法
申请号:CN202411111172
申请日期:2024-08-13
公开号:CN119199408A
公开日期:2024-12-27
类型:发明专利
摘要
由于缺少对于微缺陷的有效微观表征,以往的缺陷研究手段脱离了真实实际,对于实际生产制造引入的微缺陷造成的影响程度难以有效模拟分析。本申请提供了一种基于显微CT的绝缘拉杆微缺陷局部电场评估方法,所述方法包括:制备绝缘拉杆微缺陷样段,采用高精度CT获取所述样段的微观形貌特征图像,对所述微观形貌特征图像进行处理得到表面网格文件,对所述表面网格文件进行建模仿真,评估微缺陷引起的绝缘拉杆表面电场畸变情况与严重程度。
技术关键词
绝缘拉杆 计算机断层扫描 形貌特征 电场 建模仿真 网格 图像灰度值 检测平台 三维逆向重构 有限元仿真软件 像素点 拉普拉斯方程 密度探测器 步进式旋转 大津算法 切片 灰度直方图 可读存储介质
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