一种芯片数量检测方法以及样本分析装置

本发明公开了一种芯片数量检测方法以及样本分析装置，检测方法包括以下步骤：推动组件驱动压板移动到预设位置，判断探针的电流是否达到电流阈值；若判断探针的电流达到电流阈值，获知芯片数量；若判断探针的电流未达到电流阈值，推动组件至少一次驱动压板移动单张芯片厚度对应的距离，在判断探针的电流达到电流阈值时，推动组件停止驱动压板移动，并获知芯片数量；若直至压板移动到极限位置，依然判断探针的电流未达到电流阈值，推动组件停止驱动压板移动，并获知芯片数量为零。采用电流检测方式准确获知芯片数量，且该方式非常简单巧妙，无需采用复杂算法，能够有效节省装置的软硬件成本。