摘要
本发明公开一种AI框架测试方法、装置、设备及存储介质,属于人工智能技术领域,根据待测AI框架,得到待测算子;对待测算子进行算子测试,得到待测AI框架的算子能力测试结果;对待测AI框架进行模型能力测试,得到待测AI框架的模型能力测试结果;根据算子能力测试结果与模型能力测试结果,得到所述待测AI框架的评估结果。上述方法实现了通过算子测试和模型测试两个部分,能够全面评估AI框架的功能、性能和正确性,提高对模型实际性能水平的认知,从而为进一步的性能优化、资源配置和应用部署提供依据。
技术关键词
框架
测试方法
数据处理模块
测试模块
测试设备
人工智能技术
精度
指标
处理器
存储器
参数
系统为您推荐了相关专利信息
回路测试方法
晶闸管级
多传感器
中央控制单元
机器学习模型
交通指示灯
路口模型
数据处理系统
交通数据平台
三维空间模型
卫星云图
多通道
采样模块
输出特征
模型训练模块
智能识别模块
数据处理模块
辨识系统
信息采集模块
机器学习算法
智能故障诊断方法
液压系统故障
特征提取器
故障诊断模型
图像