AI框架测试方法、装置、设备及存储介质

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AI框架测试方法、装置、设备及存储介质
申请号:CN202411112285
申请日期:2024-08-14
公开号:CN118626402B
公开日期:2024-11-01
类型:发明专利
摘要
本发明公开一种AI框架测试方法、装置、设备及存储介质,属于人工智能技术领域,根据待测AI框架,得到待测算子;对待测算子进行算子测试,得到待测AI框架的算子能力测试结果;对待测AI框架进行模型能力测试,得到待测AI框架的模型能力测试结果;根据算子能力测试结果与模型能力测试结果,得到所述待测AI框架的评估结果。上述方法实现了通过算子测试和模型测试两个部分,能够全面评估AI框架的功能、性能和正确性,提高对模型实际性能水平的认知,从而为进一步的性能优化、资源配置和应用部署提供依据。
技术关键词
框架 测试方法 数据处理模块 测试模块 测试设备 人工智能技术 精度 指标 处理器 存储器 参数
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