射频前端芯片的1dB压缩点快速测试系统及方法

本发明公开了一种射频前端芯片的1dB压缩点快速测试系统及方法，该系统包括：上位机、信号发生器、功率计、直流电源和波形发生器；信号发生器通过与待测试芯片的输入端连接，信号发生器用于向待测试芯片输入射频功率信号；功率计与待测试芯片的输出端连接，功率计用于测量经待测试芯片增益后的输出功率；直流电源和波形发生器分别与待测试芯片的供电端连接，用于为待测试芯片提供工作电源并使待测试芯片进入工作模式；上位机用于：控制信号发生器的输出功率，并读取功率计的测量功率，以及采用二分法+逐次逼近的功率搜索方式快速测量出待测试芯片的1dB压缩点。本发明能够提高芯片1dB压缩点的测试效率，并降低测试成本。