一种材料铺层检测方法

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一种材料铺层检测方法
申请号:CN202411124340
申请日期:2024-08-15
公开号:CN119205624B
公开日期:2025-10-17
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种材料铺层检测方法,先使用二值化的方法提取原始图像的材料轮廓,接着采用透视变换的方法将材料边界进行校正,并统一为固定长度和宽度的图像,作为输入材料图像,然后使用自适应二值化方法和otsu二值化方法,对输入材料图像中间的黑白色域进行分割,得到最终二值图像,接着使用统计学方法对上述最终二值图像进行扫描,找到最终二值图像内黑白色域的分割点坐标,最后分别输入四个不同截面的原始图像,使用前述方法分别对四个不同截面的原始图像进行处理,获取到各自的分割点坐标,得到各个铺层角度的厚度,该方法提高了检测的准确性。
技术关键词
像素 透视变换矩阵 二值化方法 关键点 黑色 边缘检测算法 统计学方法 轮廓信息 坐标 轮廓图像 类间方差 彩色图像 滑动窗口 浮点数 噪声 邻域 直方图
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