一种芯片SDK的测试方法、系统、设备及介质

本发明公开一种芯片SDK的测试方法、系统、设备及介质，所述芯片SDK的测试方法，包括：根据用户输入的任务名称，从任务管理模块存储或创建的测试任务中确定与所述任务名称对应的测试任务，所述测试任务与SDK的测试版本对应；响应于针对所述测试任务的选择操作，判断与所述测试任务关联的硬件设备的在线状态和环境配置是否符合测试要求；在所述硬件设备的在线状态和环境配置符合所述测试要求的情况下，基于所述测试任务的执行计划，执行所述测试任务中的各个测试用例，得到各个所述测试用例的执行结果；根据各个所述测试用例的执行结果，对所述测试任务进行测试结果分析，生成所述测试任务的测试报告。