基于半导体存储芯片的容量智能检测方法及系统

本发明涉及半导体存储芯片技术领域，揭露一种基于半导体存储芯片的容量智能检测方法及系统，方法包括：构建半导体存储芯片的行地址序列与列地址序列，构建半导体存储芯片的行检测数据与列检测数据；向半导体存储芯片写入行检测数据，从半导体存储芯片中读出行检测数据，利用行读出数据从行地址序列中确定半导体存储芯片的目标行地址；从半导体存储芯片中读出列检测数据，利用列读出数据从列地址序列中确定半导体存储芯片的目标列地址；利用目标行地址与目标列地址中构建半导体存储芯片的存储单元地址；利用目标行地址、目标列地址及目标单元地址分析半导体存储芯片的容量检测结果。本发明可以减少半导体存储芯片的容量检测复杂度。