芯片自定义测试方法、装置、计算机设备及介质

本申请涉及一种芯片自定义测试方法、装置、计算机设备及介质，其中，方法包括：根据预设指定路径加载测试配置文件列表；响应基于测试配置文件列表执行的测试需求选择操作，导入需要测试的配置文件；根据需要测试的配置文件，获取测试脚本路径、并基于测试脚本路径读取脚本文件；基于读取的脚本文本执行脚本应用、且采用闭环接口方法测试芯片不同类型参数；推送芯片不同类型参数测试结果。整个过程中，基于预设指定路径来加载测试配置文件列表，以让用户进行测试需求选择操作，导入对应需要测试的配置文件，再针对性读取脚本文件来进行测试，满足用户自定义测试的需求。