断路器缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备

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断路器缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备
申请号:CN202411138844
申请日期:2024-08-19
公开号:CN119090829A
公开日期:2024-12-06
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种断路器缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备。其中,该方法包括:对断路器进行图像采集,得到初始图像,其中,初始图像包括断路器的螺纹;对初始图像进行图像增强处理,得到目标图像,其中,初始图像中螺纹的初始轮廓线的区别度小于目标图像中螺纹的目标轮廓线的区别度;对目标轮廓线进行提取,得到第一图像特征,其中,第一图像特征为目标图像中存在螺纹缺陷的区域对应的特征,第一图像特征与第二图像特征不同,第二图像特征为目标图像中未存在螺纹缺陷的区域对应的特征;基于第一图像特征,确定断路器的缺陷识别结果。本发明解决了相关技术中断路器螺纹缺陷检测速度慢和准确性不足的技术问题。
技术关键词
断路器 缺陷检测方法 像素 图像增强 非易失性存储介质 螺纹缺陷检测 缺陷检测装置 传送带 边缘检测算法 电子设备 受力特征 处理器 光电传感器 识别模块 存储器 信号 程序
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