芯片测试板、芯片验证系统、芯片测试系统以及芯片测试方法

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芯片测试板、芯片验证系统、芯片测试系统以及芯片测试方法
申请号:CN202411369116
申请日期:2024-09-29
公开号:CN119511026A
公开日期:2025-02-25
类型:发明专利
摘要
本申请涉及一种芯片测试板、芯片验证系统、芯片测试系统以及芯片测试方法,包括:待测芯片;socket插件,待测芯片放置于socket插件;FPGA芯片,并通过所述socket插件与待测芯片相连接;测试主芯片,与测试主机通信,通过FPGA芯片与待测芯片连接;测试主芯片用于从测试主机下载测试程序;下载接口分别与所述FPGA芯片和待测芯片连接,下载接口用于下载FPGA芯片和待测芯片的启动代码;FPGA芯片用于基于FPGA芯片的启动代码获取到对应的测试程序,待测芯片用于基于待测芯片的启动代码获取到测试程序,测试主芯片、FPGA芯片及待测芯片分别执行测试程序得到测试结果。采用本芯片测试板能够降低测试成本。
技术关键词
FPGA芯片 待测芯片 芯片测试板 芯片验证系统 测试主机 芯片测试系统 芯片测试方法 代码读取 插件 协议 存储模块 服务器 接口 终端 数据
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