延迟锁相环电路及其锁定测试方法和相关装置

本公开提供一种延迟锁相环电路及其锁定测试方法和相关装置。该DLL电路包括：主控环路，包括压控延迟线，压控延迟线包括串联连接的多级第一延迟单元，压控延迟线用于根据偏置电压产生延迟参考时钟信号的多级相位时钟信号，主控环路用于根据参考时钟信号和压控延迟线产生的反馈相位时钟信号之间的相位差，控制DLL电路的锁定状态；环形振荡器，包括环路连接的多级第二延迟单元，用于根据偏置电压输出振荡信号，以便于根据振荡信号的频率计算得到第二延迟单元的延迟时间，将第二延迟单元的延迟时间与标准值进行比较，根据比较结果确定DLL的锁定状态，其中标准值为DLL电路处于正确锁定状态时第一延迟单元的延迟时间，这降低了DLL电路的量产测试成本。