一种光模块测试设备、系统、控制方法及上位机设备

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一种光模块测试设备、系统、控制方法及上位机设备
申请号:CN202411380810
申请日期:2024-09-30
公开号:CN119210581A
公开日期:2024-12-27
类型:发明专利
摘要
本公开实施例提供了一种光模块测试设备、系统、控制方法及上位机设备,包括:设备内部包括多个测试槽位,每个测试槽位均集成有误码仪的硬件模块;每个测试槽位均设置有通信接口,并通过自身设置的通信接口分别与上位机设备建立信息交互通道;误码仪,用于通过所在测试槽位与上位机设备之间的信息交互通道与上位机设备进行通信;并根据上位机设备的控制命令,对所在测试槽位对应的待测光模块进行测试。集成度高、占用空间小,实现了对光模块的并行测试,从而提高了测试效率。
技术关键词
上位机设备 光模块测试设备 误码仪 测光模块 应答反馈信息 温控模块 网络端口 通信接口 通道 命令 光模块测试系统 人机交互界面 控制模块 控制器 数字信号处理器 交换机 夹具板
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