芯片良率检测方法及其系统、计算机设备、计算机可读存储介质

本发明涉及芯片检测技术领域，特别涉及一种芯片良率检测方法及其系统、计算机设备、计算机可读存储介质，步骤如下：识别晶圆上各器件的测试SNP文件，将SNP文件转化为测试数据；自定义SPEC文件，SPEC文件的自定义内容包括dB值、测试项、各测试项下的最大值及最小值；读取测试数据，根据SPEC文件定义的测试项相应计算各测试项下的测试值，并将测试值与对应测试项下的最大值和最小值比较，获取各测试项的测试结果，根据各测试项的测试结果，来判定该器件是否合格；根据各器件的合格状态来计算整片晶圆的良率，并输出良率数据文件；本发明自动检测及统计，通用性强，且良率检测及统计的可靠性高。