自适应采样机制和双步自相关的复制移动篡改检测方法

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自适应采样机制和双步自相关的复制移动篡改检测方法
申请号:CN202411385291
申请日期:2024-09-30
公开号:CN119516343B
公开日期:2025-12-09
类型:发明专利
摘要
本发明公开自适应采样机制和双步自相关的复制移动篡改检测方法,提出了自适应采样机制ASM,根据输入图像的特点自动地调节采样点的数量与位置,从而帮助网络更好地检测不同大小的篡改区域。本发明提出低计算量的双步自相关,通过低分辨率特征图上的特征相关性来抽取高分辨率特征图上的高相似区域,仅在高相似区域的特征之间计算相关性,因此大幅降低了计算量。本发明提出双分支自适应融合模块,采用轻量的多尺度空洞卷积模块来自适应地融合LD‑SCC前的局部上下文特征与LD‑SCC后的相关特征,从而提高检测性能。
技术关键词
篡改检测方法 篡改区域定位 机制 多尺度特征提取 输出特征 像素块 图像篡改区域 通道 采样点 卷积模块 特征点 检测网络模型 代表 分支 随机梯度下降 上下文特征 多级特征 数据
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