一种基于相关双采样的激光全波形测距装置及方法

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一种基于相关双采样的激光全波形测距装置及方法
申请号:CN202411385836
申请日期:2024-09-30
公开号:CN119335544A
公开日期:2025-01-21
类型:发明专利
摘要
本发明一种基于相关双采样的激光全波形测距装置及方法,采用高透射率低反射分光镜完成对激光发射模块发射激光的分光,其中发射激光99%以上能量被透射,形成发射光打到目标上,1%以下能量被反射形成参考光,反射回的参考光被激光接收模块接收,发射光打到目标后的回光与参考光由同一激光接收模块接收。激光接收模块分别将接收到的参考光及发射光转换为电信号输出到控制及处理模块处理,控制及处理模块处理将参考光及接收光转换的电信号进行波形解算,由于发射光与回光的同源性,消除了测距过程中光源不一致导致的测距误差,同时通过发射光和接收光的相关双采样可抑制激光接收模块采样噪声,从而提高采样信噪比,提高测距精度。
技术关键词
激光发射模块 分光镜 光电转换电路 电信号 测距装置 低反射 波形 测距误差 反射率 距离信息 算法 信噪比 激光器 噪声 光源 精度
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