一种扩展测试板

本申请公开了一种扩展测试板，可应用于芯片测试技术领域，该扩展测试板可实现对不同损耗条件下的电信号进行测试，包括：测试板主体和设置在所述测试板主体上的连接器组件；每组所述连接器组件包括两个第一连接端、两个第二连接端以及一对差分传输线；所述第一连接端用于与芯片测试板连接，并接收电信号；所述第二连接端用于与高速示波器连接，并发送电信号；所述差分传输线一端与所述第一连接端连接，另一端与所述第二连接端连接，用于传输电信号。如此，可以通过对不同组连接器组件中的差分传输线进行区别设置，从而实现对不同损耗条件下的电信号进行信号质量的测试，进而为后期不同产品应用此芯片时的PCB设计提供参考。