芯片测试方法、系统、设备及存储介质

本申请提供了一种芯片测试方法、系统、设备及存储介质，芯片测试设备包括通过背板相互连接的主控板、数字测试板和配合测试板，数字测试板和配合测试板为类型不同的测试板卡，配合测试板的测试操作数据与数字测试板的测试向量的时序同步；主控板通过测试指令同步触发数字测试板和配合测试板，以使配合测试板根据测试操作数据执行测试操作，并使数字测试板同步根据测试向量执行测试操作，以对待测芯片进行同步测试。主控板能通过软件指令触发的方式控制不同类型板卡执行测试，且由于测试操作数据与测试向量的时序同步，使得数字测试板和配合测试板根据各自的测试数据执行测试操作时能够实现同步配合，提高了芯片测试时不同类型板卡的同步精度。