基于深度学习的轨道缺陷检测方法、装置及电子设备

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基于深度学习的轨道缺陷检测方法、装置及电子设备
申请号:CN202411436921
申请日期:2024-10-15
公开号:CN119007174B
公开日期:2024-12-27
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种基于深度学习的轨道缺陷检测方法、装置及电子设备,属于图像处理技术领域。该方法通过获取待检测的全局轨道图像;将全局轨道图像输入TGLNet模型进行轨道表面缺陷检测;模型包括图像标记分割模块、图像特征交互模块、特征融合金字塔网络和分类回归模块;图像标记分割模块将全局轨道图像分割为多个互不重叠的局部图像;通过图像特征交互模块提取局部图像的特征信息;通过特征融合金字塔网络对特征信息进行特征融合;分类回归模块对特征图分别进行分类和回归,得到局部图像的缺陷信息;将局部图像中的缺陷信息映射至全局轨道图像中。通过本申请基于深度学习实现全局轨道图像的自动识别和定位,解决人工巡检效率低下的技术问题。
技术关键词
金字塔网络 表面缺陷检测 轨道 缺陷检测方法 模块 索引 计算机存储介质 图像分割 表面缺陷图像 缺陷检测装置 标记 通信接口 电子设备 图像处理技术 缺陷类别 存储器 样本 注意力 数据
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