一种光学检测设备的校准修复管理系统及其管理方法

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一种光学检测设备的校准修复管理系统及其管理方法
申请号:CN202411441527
申请日期:2024-10-16
公开号:CN118960823B
公开日期:2025-02-14
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种光学检测设备的校准修复管理系统及其管理方法,具体涉及光学检测设备校准技术领域,包括以下步骤:首先通过标准测试确定当前测量误差是否超标,若超标,则计算环境变化系数;接着获取当前测量误差、环境变化系数和已校准次数,进行模糊推理,选择适当的校准策略并执行校准;若校准后测量误差仍超标,则修复相关光学元件或控制部件;循环上述步骤,直至测量误差符合预设标准;本发明能够动态调整校准策略,适应不同的环境变化条件,减少频繁重新校准的需求,在不同的环境条件下确保光学检测设备的测量精度,不仅能够全面校正设备在稳定和动态环境下的测量误差,还能够通过循环校准机制,确保设备在长期使用中的高精度和可靠性。
技术关键词
光学检测设备 测量误差 校准策略 修复管理方法 模糊推理 修复管理系统 误差函数 滤波器 参数 控制部件 光学元件 模糊集合 动态 模糊规则 变量 LMS算法 最小化误差
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