缺陷数据的生成方法、装置、电子设备及存储介质

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缺陷数据的生成方法、装置、电子设备及存储介质
申请号:CN202411441611
申请日期:2024-10-15
公开号:CN119516299A
公开日期:2025-02-25
类型:发明专利
摘要
本申请提供了一种缺陷数据的生成方法、装置、电子设备及存储介质,所述方法包括基于获取的对缺陷描述的文字,生成语义保护掩码;语义保护掩码用于确定缺陷在图像中的属性;根据语义保护掩码和随机噪声图像,生成缺陷图像;融合语义保护掩码、缺陷图像以及无缺陷图像,得到目标缺陷图像;其中,无缺陷图像通过无缺陷图像数据集获取;基于目标缺陷图像,得到缺陷数据集。本申请通过通过语义保护掩码精确缺陷图像,再通过无缺陷图像得到高质量的目标缺陷图像,从而得到缺陷数据库,提高缺陷数据的质量。
技术关键词
缺陷类别 随机噪声 图像生成模型 生成方法 数据 电子设备 融合语义 计算机 处理器通信 生成装置 指令 模块 可读存储介质 存储器 注意力 参数 裂纹
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