一种缺陷检测方法、缺陷检测系统及存储介质

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一种缺陷检测方法、缺陷检测系统及存储介质
申请号:CN202411447544
申请日期:2024-10-16
公开号:CN119313967A
公开日期:2025-01-14
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种缺陷检测方法、一种缺陷检测系统,以及一种计算机可读存储介质。缺陷检测方法包括步骤:获取待检测的目标域样本;以及将待检测的目标域样本输入至神经网络检测模型中以进行缺陷检测;其中,训练神经网络检测模型的步骤包括:将域适应结构加入初始化基础目标检测网络,以确定域适应检测网络,域适应结构包括特征解耦域适应模块和边界框域适应模块;将一组源域图像和目标域图像输入至域适应检测网络进行训练,直至网络总体损失函数达到预设目标,得到训练好的神经网络模型;去除神经网络模型中的域适应结构,得到神经网络检测模型。
技术关键词
缺陷检测方法 特征提取网络 神经网络模型 特征提取器 缺陷检测系统 区域候选网络 深层特征提取 浅层特征提取 检测器结构 基础 级联 图像 计算机 训练神经网络 可读存储介质 对齐模块 样本 存储器
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