一种霍尔芯片、霍尔传感器及检测磁场分量的方法

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一种霍尔芯片、霍尔传感器及检测磁场分量的方法
申请号:CN202411457744
申请日期:2024-10-18
公开号:CN118973368B
公开日期:2025-03-04
类型:发明专利
摘要
本申请公开一种霍尔芯片、霍尔传感器及检测磁场分量的方法。该霍尔芯片包括衬底和聚磁体,衬底上形成有至少四个磁感应部和与至少四个磁感应部电连接的电极部,至少四个磁感应部呈四边形分布,以形成在第一对角线上设置两个磁感应部和第二对角线上设置的两个磁感应部,每个磁感应部的取向平行或近似平行于其对应的对角线所在的方向,聚磁体覆盖在衬底上,聚磁体在衬底上的正投影具有轮廓边界,轮廓边界至少部分位于每个磁感应部的中心区,该霍尔芯片具有低成本、高安装容差、小型化及探测XYZ三轴磁场的技术效果,通过将每个磁感应部的取向平行或近似平行与其对应的对角线所在的方向,有利于提高聚磁体的安装容差,简化安装要求。
技术关键词
聚磁体 霍尔传感器 检测磁场 芯片 衬底 正电极 调理电路 轮廓 对称轴 封装体 取向 信号 四边形 中心线 低成本 电流 电压 Y轴
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