一种基于基准测试集的集成电路物理设计工具评测系统

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一种基于基准测试集的集成电路物理设计工具评测系统
申请号:CN202411461535
申请日期:2024-10-18
公开号:CN119442998B
公开日期:2025-10-31
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种基于基准测试集的集成电路物理设计工具评测系统,包括:用例管理模块、被测工具管理模块和测试执行与报告模块;用例管理模块用于根据用户指令,利用具有统一命名规范格式和数据规范格式的基准例子新建用例,将新建的用例上传到基准测试集库;被测工具管理模块用于根据用户指令上传被测件;测试执行与报告模块用于根据用户指令,利用被测件运行通过规范性检查的评测用例后得到被测件的输出值,并将被测件的输出值与标杆工具运行评测用例的输出值通过评测算法进行同一标准换算,输出被测件的每个指标的性能评测值可视化评估报告。该评测系统的指标评分方法简单、实用,可以根据不同指标的得分值快速评估出物理设计工具的性能。
技术关键词
集成电路物理设计 评测系统 基准 指标 标杆 数据分类 格式 报告 模块 评分方法 目录 设计工具 指令 编辑 规模 脚本 层级 算法
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