一种SDRAM存储器测试的March C地址匹配算法

本发明属于存储器测试技术相关领域，其方法公开了一种SDRAM存储器测试的March C地址匹配算法，该方法综合存储器故障覆盖率，测试时间复杂度，实际检测时间等多种因素影响，在基于March C算法的基础上对测试算法进行了优化，从而得到一种高效实际的存储器测试算法，该方法在有较高故障覆盖率的前提下，减少了测试的时间复杂度。本发明在故障覆盖率95％的前提下优化近10％的测试时间，从而实现了更高效实际的存储器测试算法。