偏位缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质

本申请提供了一种偏位缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，所述方法包括获取预先标注的缺陷图像，得到训练集，对缺陷图像进行处理，得到处理数据，利用处理数据对预构建的初始分割模型的初始损失函数进行优化，得到目标损失函数，从而对初始分割模型进行训练，得到目标分割模型；将待测图像输入所述目标分割模型，得到待测零件零件区域及待测零件基准区域的边缘位置；基于待测零件零件区域及所述待测零件基准区域的边缘位置，确定待测零件是否存在偏位缺陷。本申请对现有的分割模型的损失函数进行更新，从而得到目标分割模型，从而利用目标分割模型能够对产品的边缘区域能够准确提取分割，提高了检测偏位缺陷的准确度。