一种射频芯片高精度自动化装夹测试设备

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一种射频芯片高精度自动化装夹测试设备
申请号:CN202411476208
申请日期:2024-10-22
公开号:CN119076398A
公开日期:2024-12-06
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种射频芯片高精度自动化装夹测试设备,包括工作台、设置于工作台上一侧的料仓机构、设置于工作台上且位于料仓机构一侧的料盘夹持机构、设置于料盘夹持机构上且与其连接的芯片夹持机构、设置于工作台上的测试治具、设置于工作台上且位于测试治具一侧的测试机构、设置于工作台上且位于测试治具一侧的第一拍照识别机构;有益效果是,在满足射频芯片混频测试稳定的情况下,实现自动化上料、装夹、扫码、测试、下料、分拣,具备摆放位置精度的自动修正功能,支持双工位测试,可通过夹爪和吸嘴对产品拾取,测试效果佳,适应性更强;设备外部采用屏蔽玻璃,测试夹具采用屏蔽型腔使芯片与外部进行隔绝,有效隔绝测试时外部的电磁波干扰。
技术关键词
芯片搬运机构 Z轴移动机构 射频芯片 X轴移动机构 Y轴移动机构 测试设备 料仓机构 料盘夹持机构 工作台 测试机构 移动架 视觉定位机构 上料仓 存储仓 TRAY盘 加工件 精定位机构 旋转组件
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