一种多异步芯片测试信号的处理方法及装置

本发明公开了一种多异步芯片测试信号的处理方法及装置，处理方法包括如下步骤：基于对目标芯片的预先测试，获取芯片测试信号组，其中，芯片测试信号组包括至少两条异步的芯片测试信号；对各条芯片测试信号进行区域转换处理，形成对应的信号向量集合；基于信号异步处理策略，对各个信号向量集合进行处理，给出芯片测试数列；通过对各个芯片测试数列的比较分析，确定芯片测试结果。本发明主要针对时序不一致的芯片测试信号进行批量处理，实现了芯片测试效率和精准度的提升。