异常检测方法、装置、测试设备、存储介质和程序产品

本申请公开了一种异常检测方法、装置、测试设备、存储介质和程序产品，该方法包括：获取待检测的射频信号，射频信号是射频芯片接收到的信号；对射频信号进行预处理，确定模型输入数据；将模型输入数据输入到预设模型，通过预设模型确定射频信号的检测结果；其中，检测结果用于指示射频信号是否存在射频芯片外围因素引发的异常。这样，采用基于预设模型的机器学习方式，不仅能够识别出是否存在射频芯片外围因素引发的异常，提高信号异常检测的准确性；而且减少人工干预，还能够提高测试效率；另外，通过引入机器学习的预设模型，还能够适应不同的异常场景，增强鲁棒性。