一种芯片及其启动和测试方法、电子设备及存储介质

本发明公开了一种芯片及其启动和测试方法、电子设备及存储介质，应用于芯片启动测试领域。该方法包括：芯片上电复位；更改启动方式，选择从SRAM启动；向芯片发起非Debug逻辑复位请求；芯片响应所述非Debug逻辑复位请求；将芯片的非Debug逻辑复位释放；SRAM执行启动程序。通过处理器更改启动方式，灵活选择测试起始地址SRAM，在不需要发生上电复位，系统复位的情况下，灵活调试启动程序，避免Flash的反复擦除，缩短测试时间，提高测试效率。