对固态硬盘性能测试的测试方法和装置、存储介质及电子设备

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正文
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对固态硬盘性能测试的测试方法和装置、存储介质及电子设备
申请号:CN202411487583
申请日期:2024-10-23
公开号:CN119446235A
公开日期:2025-02-14
类型:发明专利
摘要
本申请实施例提供了一种对固态硬盘性能测试的测试方法和装置、存储介质及电子设备。其中,该方法包括:获取与固态硬盘上非易失性存储模块匹配的规格参数集合,其中,规格参数集合中包括通道数量参数,核心数量参数以及逻辑单元数量参数,通道数量参数用于指示非易失性存储模块上用于数据传输的数据通道的数量,核心数量参数用于指示接收和执行命令的芯片的数量,逻辑单元数量参数用于指示用于执行逻辑操作的逻辑单元的数量;根据规格参数集合确定非易失性存储模块中执行目标测试操作的测试单元以及测试单元的目标数量;从测试资源集合中获取测试资源的状态标识,根据状态标识确定对测试单元执行目标测试操作。
技术关键词
非易失性存储模块 标识 资源 读数据 固态硬盘 参数 逻辑 测试方法 低功耗 核心 电子设备 处理器 可读存储介质 计算机程序产品 通道 芯片 物理 存储器
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