比较器芯片的测试设备及方法

本公开涉及一种比较器芯片的测试设备及方法，测试设备包括：测试芯片插接部、数据更新模块及控制器。测试芯片插接部包括芯片插座及芯片测试电路，芯片测试电路与芯片插座电连接，芯片插座用于与待测比较器芯片插接连接；数据更新模块与芯片插座电连接，数据更新模块用于提供启动指示信号，以使待测比较器芯片基于启动指示信号启动运行程序或启动更新程序；控制器用于与待测比较器芯片通信，以调整待测比较器芯片的测试项。本公开可以直接更换芯片插座中插接的待测比较器芯片，以实现对不同比较器芯片的测试，并且待测比较器芯片在置入芯片插座后，会自动根据启动指示信号，启动运行程序或更新程序，由此降低了测试成本还提高了测试的自动化程度。