一种探针卡、多结构功率器件芯片的测试方法、自动化同步测试系统及存储介质

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一种探针卡、多结构功率器件芯片的测试方法、自动化同步测试系统及存储介质
申请号:CN202411501041
申请日期:2024-10-25
公开号:CN119510836A
公开日期:2025-02-25
类型:发明专利
摘要
本发明公开一种探针卡、多结构功率器件芯片的测试方法、自动化同步测试系统及存储介质,其探针卡设置有能够同时连接至功率器件芯片上的多种结构的探针,且探针卡上还设置有与各结构对应的探针布局,各探针布局均包括有与相应结构对应的电路回路;其测试方法用于测试设备,包括从测试程序中依次读取一组参数数据,并根据当前读取到的一组参数数据对所述多结构功率器件芯片进行测试,直至读取完所述测试程序中的全部参数数据。本发明的探针卡能够同时连接功率器件芯片上的全部结构,结合本发明的测试方法,测试设备能够根据预置的程序自动切换信号回路,以自动切换参数数据对功率器件芯片上的不同结构依次进行测试。
技术关键词
功率器件芯片 测试结构 回路 多结构 同步测试系统 测试设备 测试方法 探针卡 参数 开关矩阵 器件测试 控制模块 数据 控制第一信号 标识 关断 继电器 布局
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