摘要
本申请公开了一种预测环氧树脂基类绝缘子电学性质的方法,涉及环氧树脂绝缘材料技术领域。其通过构建环氧树脂基绝缘材料的分子模型并对其结构进行优化,模拟外加电场下的行为,计算偶极矩和极化率,分析分子轨道以及建立宏微观关联模型,利用分子模拟和红外光谱技术,预测绝缘子在不同电场下的电学性质。其方法利用分子模拟和红外光谱技术,能够有效预测环氧树脂绝缘子材料在不同电场下的电学性质;方法操作便利,成本低廉,能够应用于500kVGIS绝缘子材料状态、性能评估以及预测,为环氧类绝缘子的状态评估和老化机理研究提供了新的理论基础和数据支持。
技术关键词
分子模型
红外光谱技术
绝缘子材料
环氧树脂绝缘材料
环氧树脂绝缘子
电场
构型
轨道
软件
密度
数据
结构式
理论
电子
基础
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