缺陷快速成像方法和系统

本申请涉及超声缺陷成像技术领域，具体涉及一种缺陷快速成像方法和系统。其中，缺陷快速成像方法，包括：按照预设路径，驱动位移组件按照预设步长移动，遍历预设路径上每一个扫描位置；预设路径包括多个扫描位置；在位移组件到达扫描位置的情况下，控制超声输出组件发出检测超声至待测工件；控制电磁超声单向换能器获取检测超声生成的回声信号；提取回声信号中沿待检测方向的第一回声信号；待检测方向为电磁超声单向换能器垂直于预设路径的任一方向；基于频域的合成孔径成像算法和第一回声信号，构造第一回声信号对应的缺陷图像，缺陷图像包含缺陷位置信息。能够基于单向回波确定待测工件表面的损坏位置，进一步地能够构造出待测工件的表面图像。