一种逻辑锁定加密电路的安全评估方法及系统

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一种逻辑锁定加密电路的安全评估方法及系统
申请号:CN202411503366
申请日期:2024-10-25
公开号:CN119323062B
公开日期:2025-09-23
类型:发明专利
摘要
本发明涉及电路安全技术领域,提出一种逻辑锁定加密电路的安全评估方法及系统,包括:提取逻辑锁定加密电路中的密钥位、逻辑门和逻辑锥集合;寻找所述密钥位中的可逻辑阻断密钥位;基于所述可逻辑阻断密钥位得到自动测试向量生成算法中的X状态填充对象;遍历逻辑锥集合,对逻辑锥中的密钥位基于自动测试向量生成算法生成第一测试向量得到理想响应;对当前密钥位假设固定型故障,重新基于自动测试向量生成算法生成第二测试向量得到实际响应;将实际响应与理想响应进行对比得到可推断密钥;计算可推断密钥位在密钥位中的所占比例,并与预设阈值进行比较得到安全评估结果。本发明显著提高了对逻辑锁定电路进行安全性评估的效率。
技术关键词
加密电路 密钥 生成算法 逻辑门 节点 对象 评估系统 测试模块 高风险
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