基于滤波式光谱仪的光谱测量方法、设备、系统及介质

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基于滤波式光谱仪的光谱测量方法、设备、系统及介质
申请号:CN202411507570
申请日期:2024-10-28
公开号:CN119354332A
公开日期:2025-01-24
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种基于滤波式光谱仪的光谱测量方法、设备、系统及介质,光谱仪包括级联的光学滤波器和测量模块,光学滤波器包括一个定向耦合器、通过光波导交叉级联的至少三个微环谐振腔以及设置于各微环谐振腔之上的相位调制器,相邻两个微环谐振腔之间的二阶环长差最小值与预设的光谱仪扫描带宽之间满足预设条件,根据各微环谐振腔的FSR长度、预设的目标波长重构量以及预设的重构算法确定出各微环谐振腔对应的相位调制量,将入射光源输入至光学滤波器并将确定出的各相位调制量分别输入至相应的相位调制器,各相位调制器分别根据各相位调制量对经过相应微环谐振腔的光进行调制,获得测量模块根据光学滤波器的输出光所确定出的光谱信息测量结果。
技术关键词
微环谐振腔 光学滤波器 相位调制量 相位调制器 光谱测量方法 光谱测量系统 光谱仪 采样电路模块 光波导交叉 重构算法 定向耦合器 光信息 波长 输出光 级联 电子设备
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