伪距广义延拓外推方法、装置、计算机设备和介质

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伪距广义延拓外推方法、装置、计算机设备和介质
申请号:CN202411509281
申请日期:2024-10-28
公开号:CN119045017B
公开日期:2025-01-28
类型:发明专利
摘要
本申请涉及一种伪距广义延拓外推方法、装置、计算机设备和介质。所述方法包括:存储先验伪距观测量,以及接收当前时刻的伪距和多普勒频移观测量;计算伪距变化率,以及根据伪距变化率和多普勒频移观测量,确定是否发生异常;若是则根据从先验伪距观测量选择包含当前时刻的多个历元的伪距观测量,计算伪距变化率数据序列;根据其中位数以及中位数绝对偏差确定多个历元的伪距观测量中的异常数据并且对异常数据进行剔除;利用剔除异常数据的多个历元的伪距观测量对当前时刻伪距观测量进行多项式拟合,进而根据拟合后数据采用广义延拓外推模型进行伪距外推。采用本方法可以使用较小的计算量即对插值点的误差进行控制。
技术关键词
伪距观测量 异常数据 外推模型 多普勒 外推方法 广义 多项式 偏差 计算机设备 序列 数据存储模块 处理器 可读存储介质 存储器 波长 信号
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