硼扩散配方参数优化方法、装置、设备及介质

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硼扩散配方参数优化方法、装置、设备及介质
申请号:CN202411511630
申请日期:2024-10-28
公开号:CN119475983A
公开日期:2025-02-18
类型:发明专利
摘要
本申请涉及一种硼扩散配方参数优化方法、装置、设备及介质,其中,方法包括:获取硼扩散的样本数据、样本数据对应的样本方阻数据、以及样本数据对应的配方参数特征;基于配方参数特征以及硼扩散工艺计算公式,生成工艺参数特征;将配方参数特征以及工艺参数特征输入至初始扩散质量预测模型,并基于初始扩散质量预测模型输出的预测方阻数据和样本方阻数据构建损失函数;基于损失函数采用模型优化算法训练优化初始扩散质量预测模型,直至达到预设训练结束条件,得到已训练的扩散质量预测模型;根据已训练的扩散质量预测模型进行初始最优配方参数生成和关键工艺参数特征实时调控。
技术关键词
关键工艺参数 硼扩散工艺 参数优化方法 测试硅片 生成工艺 扩散设备 参数优化装置 引入注意力机制 生成样本数据 关键字 模型训练模块 算法 数据获取模块 处理器 计算机设备 可读存储介质 存储器
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