一种半导体芯片全自动测试分选机

本发明涉及一种半导体芯片全自动测试分选机，包括机箱、设置于机箱上的上下料机械手，所述机箱上设置有下料盘、测试组件、料盘输送组件以及预热盘模块，所述料盘输送组件由固定在机箱上的输送架、设置于输送架上的输送组件、位于输送架左右两端的上料组件及下料组件组成，所述上料组件用于放置料盘，所述下料组件用于收集料盘；本发明具有保证料盘逐个下移的优点。