改善SPP显微成像分辨率的方法、装置和介质

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改善SPP显微成像分辨率的方法、装置和介质
申请号:CN202411521954
申请日期:2024-10-29
公开号:CN119395871A
公开日期:2025-02-07
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种改善SPP显微成像分辨率的方法、系统、设备及介质,其中,方法包括:光源发出的光经过锥透镜组合进行环形整形后得到准直的环形光斑,准直的环形光斑聚焦到物镜的后焦平面;准直的环形光斑以环状宽场平面波的方式斜入射至激发芯片的金属‑基底界面,调节入射角度为SPP激发角,在激发芯片的金薄膜表面激发贝塞尔SPP,贝塞尔SPP沿金薄膜表面传播,与纳米物质发生散射;SPP散射转化为光信号与反射光一起被物镜收集,通过漏模辐射效应传递到远场,在CCD相机中成像,以解决单向SPP激发时的各向异性传输导致SPRM成像空间分辨率低和通过机械装置切换SPP激发方向影响SPRM实时快速成像的问题。
技术关键词
显微成像 透镜 分辨率 光斑 物镜 环形 漏模 平面波 成像模块 薄膜分束器 芯片 光源 反射光 可读存储介质 代表 处理器 基底 纳米
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