一种利用多片FPGA级联验证数字波束合成芯片的方法

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一种利用多片FPGA级联验证数字波束合成芯片的方法
申请号:CN202411522012
申请日期:2024-10-29
公开号:CN119358480A
公开日期:2025-01-24
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种利用多片FPGA级联验证数字波束合成芯片的方法,包括步骤:S1、设置多片FPGA并分类:设置验证型FPGA和激励型FPGA;S2、构建验证平台:将验证型FPGA级联,将激励型FPGA连接每个最低级别的波束对应的验证型FPGA;S3、进行双重裁剪和单片测试:对数字波束合成芯片进行第一重裁剪;对验证型FPGA进行单片测试;裁剪辅助逻辑单元;S4、进行验证,利用PC端查看结果。本发明将多片验证型FPGA级联且用激励型FPGA辅助部分验证型PFGA验证,兼顾验证和节省资源;还分别对数字波束合成芯片和部分验证型FPGA进行双重裁剪,在不影响验证效果的情况下减少所需FPGA数量,节约成本。
技术关键词
波束 数据存储模块 解串器 级联 芯片 回波 验证平台 单片 传输模块 电源管理单元 控制模块 传输接口 光纤 网口 逻辑 存储器 时钟 端口
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